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Contenido Didáctico | -Función lógica y experimento de prueba del circuito de la puerta -Circuito lógico combinatorio (medio adaptador, completo y operación lógica adder) experimento. -Chanclas de salida tri-state de R - S, D, jk-tri-state, Pestillos para experimentos de chanclas -Pruebas e investigación de circuitos Secuenciales -Experimento integrado de contador y registro -Experimentos de decodificador y selector de datos -Generador de forma de onda y experimento de gatillo monoestable -Experimento de circuito de base de tiempo 555 -Características de conmutación de transistores, limitador y experimentos de abrazaderas -Experimento de prueba de parámetros del circuito de compuerta TTL -Experimento de prueba de circuito de puerta CMOS A/D, D/A experimento de circuito de conversión |
Experimento de circuito de simulación | -Prueba de diodos y tríodos de cristal -Circuito amplificador de una sola etapa -Circuito amplificador de dos etapas -Circuito amplificador de retroalimentación negativa -Seguidor emisor -Circuito amplificador diferencial -Pruebas paramétricas de amplificadores operacionales integrados -Circuito de suma proporcional -Circuitos integrales y diferenciales -Circuito de generación de forma de onda -Filtro activo -Comparador de voltaje -Oscilador de onda sinusoidal RC de circuito integrado -Oscilador de onda sinusoidal RC -Circuito amplificador FET -Diseño y depuración de multímetro compuesto por amplificadores operacionales |
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