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ADIKERS-kit de entrenamiento analógico digital mcp m217000, dispositivo de práctica de entrenamiento de semiconductor

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Atributos clave

Otros atributos

Lugar del origen
Shandong, China
Marca
Adikers
Número de Modelo
AZ202
Nombre del producto
Equipo de enseñanza
Función
Equipo de laboratorio
Fuente de alimentación
AC 220V ± 10% 50Hz
Certificado
Certificado de patente de diseño
Descripción
Proporcionar la potencia y las señales necesarias para el experimento
Aplicación
Instituto de formación o laboratorio
Garantía
1 año
Tamaño del producto
1570*750*1620mm
Embalaje
Embalaje de madera
Color
Plata metálica

Embalaje y entrega

Paquete
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Puerto
QingDao

Unidades de venta:
Un solo artículo

Tamaño de paquete único:
50X50X20 cm

Peso bruto único:
56.000 kg

Capacidad de suministro

Capacidad de suministro
20 Set/s per Month

Plazo de entrega

Personalizacion

Descripciones de productos del proveedor


¡Modular! ¡Apertura! ¡Grados de libertad!
-Fuerte escalabilidad, equipado con salida de potencia, salida de fuente de señal, medición de instrumentos, experimento básico, área de expansión experimental, Y circuito de módulo experimental que debe ser seleccionado en experimentos digitales y analógicos para completar diferentes experimentos, y también puede construir libremente proyectos de experimentos. -El diseño del circuito, el diagrama esquemático se imprime en la superficie de la placa del experimento, y los estudiantes construyen el circuito experimental de acuerdo con el diagrama esquemático experimental, que cultiva la capacidad de los estudiantes para aplicar lo que han aprendido. -Universal, el módulo experimental adopta un conector chapado en oro de bloqueo, que se puede insertar fácilmente en el bucle a través de un cable de prueba de 2mm o 4mm. -Protección contra sobrecorriente, protección contra sobrecorriente y cortocircuito en la salida de la fuente de alimentación y recuperación automática.
Características del producto
Contenido Didáctico
-Función lógica y experimento de prueba del circuito de la puerta
-Circuito lógico combinatorio (medio adaptador, completo y operación lógica adder) experimento.
-Chanclas de salida tri-state de R - S, D, jk-tri-state, Pestillos para experimentos de chanclas
-Pruebas e investigación de circuitos Secuenciales
-Experimento integrado de contador y registro
-Experimentos de decodificador y selector de datos
-Generador de forma de onda y experimento de gatillo monoestable
-Experimento de circuito de base de tiempo 555
-Características de conmutación de transistores, limitador y experimentos de abrazaderas
-Experimento de prueba de parámetros del circuito de compuerta TTL
-Experimento de prueba de circuito de puerta CMOS A/D, D/A experimento de circuito de conversión
Experimento de circuito de simulación
-Prueba de diodos y tríodos de cristal
-Circuito amplificador de una sola etapa
-Circuito amplificador de dos etapas
-Circuito amplificador de retroalimentación negativa
-Seguidor emisor
-Circuito amplificador diferencial
-Pruebas paramétricas de amplificadores operacionales integrados
-Circuito de suma proporcional
-Circuitos integrales y diferenciales
-Circuito de generación de forma de onda
-Filtro activo
-Comparador de voltaje
-Oscilador de onda sinusoidal RC de circuito integrado
-Oscilador de onda sinusoidal RC
-Circuito amplificador FET
-Diseño y depuración de multímetro compuesto por amplificadores operacionales
Productos recomendados
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